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XWK-IIIC现场勘查物证提取仪

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  • 产品名称:
    XWK-IIIC现场勘查物证提取仪
  • 产品型号:
  • 产品类别:
    显微镜类
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产品内容:
 XWK-IIIC现场勘查物证提取仪      价格:38000.00

 一、产品特点

1、仪器采用手持式和支架式两种操作方式,广泛应用于现场痕迹的观察和显微照相提取及痕迹物证的比对鉴定、图章真伪等鉴定。

2、可对案发现场进行显微放大调节下的物证进行查找、采集、存储。

3、携带方便,使用灵活。配有便携式光源。

4、采用彩色数码CCD,数字信号,图像清晰。

5、功能全面,可用于现场勘查同时可进行痕迹物证比对鉴定。

二、主要参数

1、物镜:0.7×~4.5×连续变倍

2、变倍比:1:6.3

3、摄影物镜:0.35×

4、图像采集:1/2英寸,300万像素彩色数码CCD

5、升降体升降范围:0~60mm

6、碟型立柱式底座:立柱升降范围0~300mm

7、X/Y/Z移动平台:X轴移动0~60mm,Y轴移动0~60毫米,Z轴可旋转角度0~360°

8、LED同轴光光源:4.2V/5W

9、可充电电源:2000毫安可充电锂电池

10、12V/100W双臂光纤冷光源

11、红外光源

12、便携式仪器背包

13、软件系统:TeKin视频观察照相/比对系统软件

14、笔记本电脑:内存2GB,硬盘250GB,屏幕尺寸14英寸,双核处理器

选购件:◆1×摄影物镜

    ◆痕迹自动识别软件

    ◆超景深大拼接图像处理软件


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